Proposta di Tesi

Il problema della valutazione dei danni provocati dall’irraggiamento di dispositivi elettronici, finora ha interessato essenzialmente la componentistica di tipo militare dove, la cosiddetta spazializzazione, rappresenta una caratteristica peculiare dei dispositivi elettronici chiamati a rispondere a requisiti di funzionalità, in condizioni estreme di temperatura e di esposizione a radiazione ionizzante. Con l’avvento dell’acceleratore LHC presso il CERN di Ginevra, anche la comunità dei fisici delle alte energie, sta ponendo sempre più attenzione ai problemi derivanti dall’impiego di dispositivi elettronici, chiamati ad operare in condizioni estreme di irraggiamento per cui, certe misure del danno provocato da un fondo radioattivo molto elevato, rivestono sempre più importanza.

Il lavoro di tesi consiste nel mettere a confronto le tecnologie CMOS profondamente submicrometriche accessibili alla comunità dei fisici impegnata in questo settore e candidate per la definizione di nuove architetture di front-end da usarsi nei circuiti elettronici di lettura dei rivelatori ai futuri Super-Collider (S-LHC, ILC, ecc.).

Si effettueranno a tal proposito misure dei parametri fisici delle strutture proposte pre e post-irraggiamento da effettuarsi con sorgenti di raggi-X, neutroni e gamma, per lo studio di effetti da evento singolo e da dose totale, a cui seguiranno un’analisi dei dati raccolti, al fine di caratterizzare le strutture prese in esame.

Per tale attività di tesi rivolgersi al Dr. Antonio Ranieri (ranieri@ba.infn.it)

Tel. 080 544 2431